Dr. Tobias Nink
Angestellt, Security Analyst / FIB Engineer, NXP Semiconductors Germany
Hamburg, Deutschland
Werdegang
Berufserfahrung von Tobias Nink
Bis heute 10 Jahre und 3 Monate, seit Apr. 2014
Security Analyst / FIB Engineer
NXP Semiconductors Germany1 Jahr und 10 Monate, Juni 2012 - März 2014
Manager Failure Analysis and Quality Support
NXP Semiconductors
4 Jahre und 11 Monate, Juli 2007 - Mai 2012
Failure Analysis Engineer
NXP Semiconductors
7 Jahre und 3 Monate, Apr. 2000 - Juni 2007
Test Development Engineer
Micronas AG
Entwicklung von Testlogik (DFT) und Testprogrammen für integrierte Halbleiterschaltungen (ICs)
5 Jahre und 5 Monate, Nov. 1994 - März 2000
Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Technische Universität BerlinWissenschaftlicher Mitarbeiter (Vollzeit) am Optischen Institut der TU Berlin
Ausbildung von Tobias Nink
Physik
Technische Universität Berlin
Sprachen
Deutsch
Muttersprache
Englisch
Fließend
Französisch
Grundlagen